Ziele:

Erreichen der physikalisch m?glichen Ortsaufl?sung von STM und AFM

• optimale physikalische Sensoreigenschaften
• tiefe Temperaturen
• chemisch definierte Spitzen

Verst?ndnis der Wechselwirkung Spitze-Probe verbessern

Vereinfachung der Rastersondenmikroskopie für

• Einsatz in schwierigen Umgebungsbedingungen (UHV, tiefe Temperaturen)

• Werkzeug zum Studium von Isolatoren

1. abbilden, 2. identifizieren, 3. manipulieren beliebiger Atomsorten auf beliebiegen Oberfl?chen (kristallin & amorph) in allen Umgebungen (Vakuum, Gas, Flüssigkeit)